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全自动探针台:微米级定位精度,赋能芯片精准测试
来源: | 作者:多多28半导体 | 发布时间: 2026-02-05 | 116 次浏览 | 🔊 点击朗读正文 ❚❚ | 分享到:


精度把控关键,守护芯片测试品质

LED芯片结构精密,电极尺寸、pn结特性均以微米级计量,微小定位偏差就可能导致测试数据失真,影响芯片分档与品质判定。多多28全自动探针台聚焦高精度测试需求,搭载高精度XYθ工作台及视觉组件,以严苛的定位精度,精准完成各类芯片的光学及电性测试,契合GB/T 36613-2018标准对芯片检测精度的要求。

高精度工作台,实现微米级重复定位

设备配备高精度XYθ工作台,XY重复定位精度≤5μm,可实现芯片的精准定位与姿态调整,确保探针与芯片电极稳定接触,避免因定位偏差导致的测试误差。工作台运行平稳,可适配不同尺寸芯片的定位需求,兼顾定位精度与运行效率,为后续测试工作的精准开展奠定基础,满足Mini/Micro LED芯片的高精密测试需求。

高清视觉组件,助力精准对位与缺陷排查

搭配高清视觉组件,设备可快速捕捉芯片外观细节与电极位置,实现探针与芯片的精准对位,同时辅助排查芯片表面细微缺陷,减少不良芯片对测试流程的干扰。视觉系统与运动控制系统无缝协同,可实时反馈定位数据,动态调整工作台位置,确保每一颗芯片的测试都精准可靠,提升测试数据的一致性与可追溯性。

精准测试赋能,提升芯片品质管控水平

微米级的定位精度的加持,让设备可精准采集芯片的电性数据与光学数据,包括正向电压、反向漏电流、光通量等核心参数,为芯片性能评估提供精准依据。通过精准测试,可提前筛除不良品,降低下游封装成本,助力企业提升芯片品质管控水平,契合行业高质量发展趋势。


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